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1.12-1.14

Gustavo Rios Spanisch

1.12-1.14

Inhalt der Mindmap

1.12-1.14

  1. 1.12 HOJAS DE ESPECIFICACIONES DE DIODOS

    • Normalmente, el fabricante proporciona datos sobre dispositivos semiconductores específicos en una de dos formas. Con más frecuencia, dan una descripción muy breve, tal vez limitada a una página.
      • 1. El voltaje en directa VF (a una corriente y temperatura especificadas) 2. La corriente máxima en directa IF (a una temperatura especificada) 3. La corriente de saturación en inversa IR (a un voltaje y temperatura especificados) 4. El valor nominal de voltaje inverso [PIV, PRV, o V(BR), donde BR proviene del término “breakdown” (ruptura) (a una temperatura especificada)] 5. El nivel de disipación de potencia máximo a una temperatura particular 6. Niveles de capacitancia 7. Tiempo de recuperación en inversa trr 8. Intervalo de temperatura de operación
      • Según el tipo de diodo que se esté considerando, es posible que también se den más datos, como intervalo de frecuencia, nivel de ruido, tiempo de conmutación, niveles de resistencia térmica y valores repetitivos pico. Para la aplicación pensada, la importancia de los datos casi siempre es autoaparente. Si también se da el coeficiente de disipación o potencia máxima, se entiende que es igual al siguiente producto:
  2. 1.13 NOTACIÓN PARA DIODOS SEMICONDUCTORES

    • En la mayoría de los diodos cualquier marca, ya sea un punto o una banda, aparece en el cátodo. La terminología ánodo y cátodo viene de la notación para tubos de vacío. El ánodo se refiere al potencial positivo o más alto, y el cátodo a la terminal negativa o más baja. Esta combinación de niveles de polarización produce una condición de polarización en directa o de “encendido” en el diodo. aparecen varios diodos semiconductores comerciales.
  3. 1.14 PRUEBA DE UN DIODO

    • La condición de un diodo semiconductor se determina rápidamente utilizando 1) un medidor de pantalla digital (DDM, por sus siglas en inglés) con una función de verificación de diodo; 2) la sección óhmetro de un multímetro, o 3) un trazador de curvas.
      • Función de verificación de diodo
        • Cuando se pone en esta posición y conecta como se muestra en la figura 1.41a, el diodo deberá estar en el estado “on” (encendido) y la pantalla indica el voltaje de polarización en directa como 0.67 V (para Si). El medidor cuenta con una fuente de corriente constante interna (de más o menos 2 mA) que define el nivel de voltaje como indica en la figura 1.41b. Una indicación OL con la conexión revela un diodo abierto (defectuoso). Si se invierten los cables, aparecerá una indicación OL debido a la equivalencia de circuito abierto del diodo. En general, por consiguiente, una indicación OL en ambas direcciones indica un diodo abierto o defectuoso.
      • Prueba con un óhmetro
        • En la sección 1.8 vimos que la resistencia de un diodo semiconductor polarizado directamente es bastante baja comparada con el nivel de polarización inversa. Por consiguiente, si medimos la resistencia de un diodo con las conexiones indicadas en la figura 1.42, podemos esperar un nivel relativamente bajo. La lectura del óhmetro será una función de la corriente establecida a través del diodo por la batería interna (a menudo de 1.5 V) del circuito del óhmetro. Cuanto más alta es la corriente, más bajo es el nivel de resistencia.
      • Trazador de curvas
        • Conectando apropiadamente el diodo al tablero de prueba en la parte central inferior de la unidad y ajustando los controles, podemos obtener la imagen de la figura 1.44. Observe que la graduación vertical es de 1 mA/div, lo que produce los niveles indicados. Para el eje horizontal la graduación es de 100 mV/div, dando como resultado los niveles de voltaje indicados.
          • Aun cuando al principio el instrumento parece bastante complejo, el manual de instrucciones y unos pocos momentos de trato revelarán que los resultados deseados en general se pueden obtener sin esfuerzo y tiempo excesivos. La pantalla del instrumento aparecerá en más de una ocasión en los capítulos siguientes cuando investiguemos las características de varios dispositivos.

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Mindmap am 1.12-1.14, erstellt von Gustavo Rios am 06/09/2017.
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Gustavo Rios
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