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Ensayos acelerados utilizando los métodos no paramétricos
Descripción
Mapa Mental sobre Ensayos acelerados utilizando los métodos no paramétricos, creado por Karla Maya el 23/04/2016.
Mapa Mental por
Karla Maya
, actualizado hace más de 1 año
Más
Menos
Creado por
Karla Maya
hace alrededor de 8 años
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Resumen del Recurso
Ensayos acelerados utilizando los métodos no paramétricos
Nano condensadores de cerámica
Metodología
1. Diseñar los ensayos acelerados
Se determina los tipos y niveles de estres
150°C
100V
Se define el modo de falla
Se define las características a medir
2.Realizar las pruebas de ensayos
Recolectar los datos
Tiempo hasta la falla
3. Evaluar la confiabilidad usando métodos no paramétricos
Kaplan–Meier
Estima la probabilidad de supervivencia para una población N
Simple actuarial
Calcula el número de fallas en un intervalo de tiempo
MTTF=1275 h
Los valores estimados de confiabilidad de ambos métodos son similares
5.Comparar los métodos no paramétricos con
la norma MIL-HDBK-217
Estimador de tasa de fallas de componentes eléctricos
Utilizada en diseños iniciales de circuitos
Cuando la información disponible es escasa
Tasa de falla del equipo=0:000213 Fallas=h
Ecuación empírica Prokopowicz y Vaskas (P-V)
Se emplea en experimentos que estudian la confiabilidad
Nano condensadores de cerámica
Tiempo hasta la falla actual= 97116.12 h=11.08 años
4. Comparar los 2 métodos
Condensador de placas
Metodología
1.Diseñar y desarrollar las pruebas de ensayos
determinar el nivel de estres
20V
2. Calcular los tiempos hasta la falla
La resistencia de aislamiento cae dramaticamente
3.Evaluar la confiabilidad usando métodos no paramétricos
Ensayo de datos no agrupados
10 ensayos
MTTF= 7.86 h
4. Comparar los métodos no paramétricos con
La ley de potencia inversa
Tiene relación con la ecuación P-V
Hallar el MTTF bajo condiciones actuales
Tiempo hasta la falla=68934.22 h=7.86 years
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