Protocolo

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1. Investigación de causas de fallas por sobre esfuerzo eléctrico (Electrical Over Stress EOS) en Microcontroladores de NXP reportados por clientes de partes automotrices durante el período 2014-2016
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- Nota 1
1. Delimitador temporal 2014-2016
2. Delimitador espacial: Mundial (Internet), NXP
3. Delimitador demográfico: Clientes de partes automotrices
4. Demilitador análitico: Causas de fallas por sobre esfuerzo eléctrico
5. Delimitador teórico: Métrico de calidad
2. Planteamiento del problema: Falta de evidencia de causas de fallas por sobre esfuerzo eléctrico
3. Objetivos
1. General: Generar evidencia de las causas posibles de las fallas por sobre esfuerzo eléctrico
2. Específicos
  1. Recopilación de información existente sobre las causas de las fallas por sobre esfuerzo
  2. Investigación bibliográfica sobre la temática
  3. Análisis y selección de datos
  4. Obtener conclusiones de la información
4. Justificación
1. Empresa NXP
2. Clientes
3. Otros empresas del mismo sector
5. Marco Teórico
6.Alcance de la Investigación
7. Hipótesis
8. Variables
1. Nombre de la variable
  1. Definición conceptual
    1. Definición operacional
9. Diseño de la Investigación
10. Población y muestra
11. Instrumentos de recolección de datos

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