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Descripción
Mapa Mental por Gloria Estefany Martínez López, actualizado hace más de 1 año
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Creado por Gloria Estefany Martínez López
hace casi 5 años
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ÍNDICES DE
CAPACIDAD DE
PROCESOS Y
MÉTRICAS DEL SEIS
SIGMA
- Procesos con doble especificación
- Las mediciones deben ser iguales a cierto valor nominal
o ideal (N), o al menos tienen que estar dentro de
ciertas especificaciones inferior (EI) y superior (ES).
- Las mediciones deben ser iguales a cierto valor nominal
o ideal (N), o al menos tienen que estar dentro de
ciertas especificaciones inferior (EI) y superior (ES).
- Índice Cp
- Indicador de la capacidad potencial de un proceso que resulta de
comparar el ancho de las especificaciones o variación tolerada para
la variable de salida con la amplitud de la variación real del proceso.
- Cp ≥ 2
- Se tiene calidad Seis Sigma.
- Se tiene calidad Seis Sigma.
- Cp . 1.33
- Adecuado
- Adecuado
- 1 , Cp ≤ 1.33
- Parcialmente adecuado, re quiere de un control estricto.
- Parcialmente adecuado, re quiere de un control estricto.
- 0.67 , Cp ≤ 1
- No adecuado para el trabajo. Un análisis del
proceso es necesario. Requiere modificaciones
serias para alcanzar una calidad satisfactoria.
- No adecuado para el trabajo. Un análisis del
proceso es necesario. Requiere modificaciones
serias para alcanzar una calidad satisfactoria.
- Cp ≤ 0.67
- No adecuado para el trabajo. Requiere modificaciones muy serias.
- No adecuado para el trabajo. Requiere modificaciones muy serias.
- Cp ≥ 2
- Indicador de la capacidad potencial de un proceso que resulta de
comparar el ancho de las especificaciones o variación tolerada para
la variable de salida con la amplitud de la variación real del proceso.
- Índices Cpk, Cpi, Cps
- índice de capacidad para la
especificación inferior (Cpi)
- Indicador de la capacidad de un proceso
para cumplir con la especificación inferior
de una característica de calidad.
- Indicador de la capacidad de un proceso
para cumplir con la especificación inferior
de una característica de calidad.
- índice de capacidad para
la superior (Cps)
- Indicador de la capacidad de un proceso
para cumplir con la especificación
superior de una característica de calidad.
- Indicador de la capacidad de un proceso
para cumplir con la especificación
superior de una característica de calidad.
- índice de capacidad real
del proceso (Cpk)
- Indicador de la capacidad real de un proceso
que se puede ver como un ajuste del índice Cp
para tomar en cuenta el centrado del proceso.
- Indicador de la capacidad real de un proceso
que se puede ver como un ajuste del índice Cp
para tomar en cuenta el centrado del proceso.
- índice de capacidad para la
especificación inferior (Cpi)
- Índice K
- Indicador de qué tan centrada está la distribución
de un proceso con respecto a las especificaciones
de una característica de calidad dada.
- Indicador de qué tan centrada está la distribución
de un proceso con respecto a las especificaciones
de una característica de calidad dada.
- Procesos de una sola especificación
- Índice Cpm (índice de Taguchi)
- La mejora de un proceso según Taguchi debe estar orientada
a reducir su variabilidad alrededor del valor nominal, N, y no
solo orientada a cumplir con especificaciones.
- La mejora de un proceso según Taguchi debe estar orientada
a reducir su variabilidad alrededor del valor nominal, N, y no
solo orientada a cumplir con especificaciones.
- Capacidad de corto plazo e índices Pp y Ppk
- Se calcula a partir de muchos datos tomados durante un periodo corto
para que no haya influencias externas en el proceso, o con muchos datos
de un periodo largo, pero calculando s con el rango promedio (s = R–/d2).
- Se calcula a partir de muchos datos tomados durante un periodo corto
para que no haya influencias externas en el proceso, o con muchos datos
de un periodo largo, pero calculando s con el rango promedio (s = R–/d2).
- Capacidad de largo plazo e índices Pp y Ppk
- Se calcula con muchos datos tomados de un periodo largo para
que los factores externos infl uyan en el proceso, y s se estima
mediante la desviación estándar de todos los datos (s = S ).
- Se calcula con muchos datos tomados de un periodo largo para
que los factores externos infl uyan en el proceso, y s se estima
mediante la desviación estándar de todos los datos (s = S ).
- Índice Pp
- Indicador del desempeño potencial del proceso,
que se calcula en forma similar al índice Cp pero
usando la desviación estándar de largo plazo.
- Indicador del desempeño potencial del proceso,
que se calcula en forma similar al índice Cp pero
usando la desviación estándar de largo plazo.
- Índice Ppk
- Indicador del desempeño real del proceso, que se calcula en forma similar
al índice Cpk pero usando la desviación estándar de largo plazo.
- Indicador del desempeño real del proceso, que se calcula en forma similar
al índice Cpk pero usando la desviación estándar de largo plazo.
- Métricas Seis Sigma
- índice Z
- Indicador de capacidad de un proceso que resulta de calcular la distancia entre las
especificaciones y la media μ del proceso en unidades de la desviación estándar, s.
- Indicador de capacidad de un proceso que resulta de calcular la distancia entre las
especificaciones y la media μ del proceso en unidades de la desviación estándar, s.
- Proceso Tres Sigma
- Proceso cuya capacidad para cumplir especificaciones a
corto plazo es igual a Zc = 3 y el índice es Cpk = 1.
- Proceso cuya capacidad para cumplir especificaciones a
corto plazo es igual a Zc = 3 y el índice es Cpk = 1.
- Calidad Seis Sigma
- Proceso cuya capacidad para cumplir especificaciones a corto
plazo es igual a Zc = 6 o cuando es a largo plazo ZL = 4.5, lo
cual, a corto plazo significa Cpk = 2 y a largo plazo Ppk = 1.5.
- Proceso cuya capacidad para cumplir especificaciones a corto
plazo es igual a Zc = 6 o cuando es a largo plazo ZL = 4.5, lo
cual, a corto plazo significa Cpk = 2 y a largo plazo Ppk = 1.5.
- índice Z
- Métrica Seis Sigma para atributos
- Defectos por millón de
oportunidades de error
- Métrica Seis Sigma para procesos de atributos
que cuantifica los defectos esperados en un
millón de oportunidades de error.
- Métrica Seis Sigma para procesos de atributos
que cuantifica los defectos esperados en un
millón de oportunidades de error.
- Unidad
- Parte o producto que se
elabora mediante un proceso.
- Parte o producto que se
elabora mediante un proceso.
- Oportunidad de error
- Cualquier componente de
la unidad que puede
medirse o verificar si
cumple con lo estipulado.
- Cualquier componente de
la unidad que puede
medirse o verificar si
cumple con lo estipulado.
- Defecto
- Es cualquier no conformidad o desviación
de la calidad especificada de un
componente de la unidad o producto.
- Es cualquier no conformidad o desviación
de la calidad especificada de un
componente de la unidad o producto.
- índice DPO
- Métrica de calidad que es igual al número de defectos
encontrados entre el número de unidades inspeccionadas.
No toma en cuenta las oportunidades de error.
- Métrica de calidad que es igual al número de defectos
encontrados entre el número de unidades inspeccionadas.
No toma en cuenta las oportunidades de error.
- Defectos por millón de
oportunidades de error
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