ÍNDICES DE CAPACIDAD DE PROCESOS Y MÉTRICAS DEL SEIS SIGMA

ÍNDICES DE CAPACIDAD DE PROCESOS Y MÉTRICAS DEL SEIS SIGMA

1. Procesos con doble especificación

   • Las mediciones deben ser iguales a cierto valor nominal o ideal (N), o al menos tienen que estar dentro de ciertas especificaciones inferior (EI) y superior (ES).

2. Índice Cp

   • Indicador de la capacidad potencial de un proceso que resulta de comparar el ancho de las especificaciones o variación tolerada para la variable de salida con la amplitud de la variación real del proceso.
     • Cp ≥ 2
       • Se tiene calidad Seis Sigma.
     • Cp . 1.33
       • Adecuado
     • 1 , Cp ≤ 1.33
       • Parcialmente adecuado, re quiere de un control estricto.
     • 0.67 , Cp ≤ 1
       • No adecuado para el trabajo. Un análisis del proceso es necesario. Requiere modificaciones serias para alcanzar una calidad satisfactoria.
     • Cp ≤ 0.67
       • No adecuado para el trabajo. Requiere modificaciones muy serias.

3. Índices Cpk, Cpi, Cps

   • índice de capacidad para la especificación inferior (Cpi)
     • Indicador de la capacidad de un proceso para cumplir con la especificación inferior de una característica de calidad.
   • índice de capacidad para la superior (Cps)
     • Indicador de la capacidad de un proceso para cumplir con la especificación superior de una característica de calidad.
   • índice de capacidad real del proceso (Cpk)
     • Indicador de la capacidad real de un proceso que se puede ver como un ajuste del índice Cp para tomar en cuenta el centrado del proceso.

4. Índice K

   • Indicador de qué tan centrada está la distribución de un proceso con respecto a las especificaciones de una característica de calidad dada.

5. Procesos de una sola especificación

6. Índice Cpm (índice de Taguchi)

   • La mejora de un proceso según Taguchi debe estar orientada a reducir su variabilidad alrededor del valor nominal, N, y no solo orientada a cumplir con especificaciones.

7. Capacidad de corto plazo e índices Pp y Ppk

   • Se calcula a partir de muchos datos tomados durante un periodo corto para que no haya influencias externas en el proceso, o con muchos datos de un periodo largo, pero calculando s con el rango promedio (s = R–/d2).

8. Capacidad de largo plazo e índices Pp y Ppk

   • Se calcula con muchos datos tomados de un periodo largo para que los factores externos infl uyan en el proceso, y s se estima mediante la desviación estándar de todos los datos (s = S ).

9. Índice Pp

   • Indicador del desempeño potencial del proceso, que se calcula en forma similar al índice Cp pero usando la desviación estándar de largo plazo.

10. Índice Ppk

    • Indicador del desempeño real del proceso, que se calcula en forma similar al índice Cpk pero usando la desviación estándar de largo plazo.

11. Métricas Seis Sigma

    • índice Z
      • Indicador de capacidad de un proceso que resulta de calcular la distancia entre las especificaciones y la media μ del proceso en unidades de la desviación estándar, s.
    • Proceso Tres Sigma
      • Proceso cuya capacidad para cumplir especificaciones a corto plazo es igual a Zc = 3 y el índice es Cpk = 1.
    • Calidad Seis Sigma
      • Proceso cuya capacidad para cumplir especificaciones a corto plazo es igual a Zc = 6 o cuando es a largo plazo ZL = 4.5, lo cual, a corto plazo significa Cpk = 2 y a largo plazo Ppk = 1.5.

12. Métrica Seis Sigma para atributos

    • Defectos por millón de oportunidades de error
      • Métrica Seis Sigma para procesos de atributos que cuantifica los defectos esperados en un millón de oportunidades de error.
    • Unidad
      • Parte o producto que se elabora mediante un proceso.
    • Oportunidad de error
      • Cualquier componente de la unidad que puede medirse o verificar si cumple con lo estipulado.
    • Defecto
      • Es cualquier no conformidad o desviación de la calidad especificada de un componente de la unidad o producto.
    • índice DPO
      • Métrica de calidad que es igual al número de defectos encontrados entre el número de unidades inspeccionadas. No toma en cuenta las oportunidades de error.