Test
PARCIAL 1
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Preguntas del test (81)
1La ecuación de Neutralidad de Carga impone que en semiconductores extrínsecos el número de iones negativos sea igual al número de iones positivos.
- AVerdadero
- BFalso
2Los portadores generados en la unión base-emisor de un transistor polarizado en directa, deben tener la energía suficiente como para atravesar la barrera de
potencial impuesta por la unión base-colector polarizada en inversa.- AVerdadero
- BFalso
3El fenómeno de Acumulación se produce cuando en el metal de la estructura MIS se aplica un potencial del mismo signo que el de los portadores mayoritarios del
cristal produciéndose una acumulación de portadores mayoritarios en la superficie.- AVerdadero
- BFalso
4En una unión P-N en equilibrio no existen ni campos eléctricos ni fenómenos difusivos, ya que se cumple el principio de neutralidad eléctrica. El campo eléctrico y el
fenómeno difusivo sólo aparecen cuando el diodo se polariza en directa o en inversa.- AVerdadero
- BFalso
5El coeficiente de temperatura de la tensión térmica VT es positivo y el coeficiente de temperatura de la tensión base-emisor de un transistor es negativo. Gracias a
estas propiedades contrapuestas es posible realizar una referencia de tensión que es virtualmente independiente de la temperatura. Para que sea posible esta
referencia debe utilizar dos transistores idénticos implementados en la misma oblea.- AVerdadero
- BFalso
6En un semiconductor extrínseco el electrón puede tener una energía que esté dentro de la banda de energías prohibidas.
- AVerdadero
- BFalso
7Cuando el diodo se polariza en directa, la carga almacenada en la zona de transición aumenta, aumentando la capacidad de transición.
- AVerdadero
- BFalso
8En reguladores lineales de tensión, el parámetro Rout mide la relación entre los cambios en la tensión de entrada y los cambios en la corriente de salida.
- AVerdadero
- BFalso
9Cuando se habla de de densidad de corriente debida a concentración de portadores, el signo de la densidad de corriente es independiente del tipo de portador, ya
sean electrones o huecos.- AVerdadero
- BFalso
10La Ecuación de Continuidad sirve para desarrollar los modelos de Shockley del diodo y de Ebers-Moll del transistor bipolar tanto en situación estacionaria como en
situación no estacionaria.- AVerdadero
- BFalso
11Para calcular la Energía de Fermi de un semiconductor, se tiene en cuenta el número de electrones que hay en la banda de conducción, el número de huecos que
hay en la banda de valencia y la temperatura a la que se encuentra.- AVerdadero
- BFalso
12Los Reguladores lineales de tensión con transistores no tienen un elemento de comparación lineal. En su lugar tienen un transistor que funciona como comparador
utilizando la diferencia de tensiones entre el colector y el emisor.- AVerdadero
- BFalso
13La Ley de Acción de Masas está relacionada con la estadística de Fermi-Dirac y con los conceptos de 'Densidad de Estados' y 'Energía de Fermi'.
- AVerdadero
- BFalso
14El factor de regulación de entrada Sv es una medida de los cambios de la tensión de salida frente a los cambios en la tensión de entrada manteniendo constante la
temperatura y la corriente de salida.- AVerdadero
- BFalso
15La manifestación del efecto transistor en el modelo de Eber-Moll se ve cuando se resuelve la ecuación de difusión en la zona neutra de base y se estudia la
concentración de portadores minoritarios en ella.- AVerdadero
- BFalso
16El modelo de Shockley deduce el comportamiento analítico del diodo de unión bajo condiciones de polarización directa e inversa. La Hipótesis de unión abrupta dice
que el campo Eléctrico fuera de la zona de transición es cero. Es decir; fuera de la zona de transición las zonas P y N son neutras.- AVerdadero
- BFalso
17La carga superficial de una estructura MIS en una situación de acumulación, la carga se distribuye en la superficie siguiendo una ley lineal con el potencial aplicado.
- AVerdadero
- BFalso
18La realimentación negativa introduce una mejora en la estabilidad de los sistemas lineales. Normalmente, un sistema lineal realimentado presenta una menor
ganancia y un mayor ancho de banda.- AVerdadero
- BFalso
19Como Fenómeno de segundo orden, la modulación del ancho de la base de un transistor bipolar o efecto Early consiste en la dependencia del ancho efectivo de la
base en función de la tensión base-emisor. Cuando mayor es esta tensión, mas pequeña aparece la longitud de la base como una consecuencia de la polarización en
directa de la unión base-emisor.- AVerdadero
- BFalso
20La conductividad en un semiconductor es una medida que depende del número de cargas y de la movilidad de la carga (electrón o hueco). Por tanto, depende del
nivel de dopado que posea ese semiconductor.- AVerdadero
- BFalso
21La energía del electrón sólo puede ser la que tiene la banda de valencia o la de la banda de conducción y nunca podrá estar con una energía dentro de la banda deenergía prohibida.
- AVerdadero
- BFalso
22La realimentación negativa permite que en un amplificador podamos controlar su ganancia y su ancho de banda. La realimentación negativa hace que cuanto menor sea su ganancia, menor se hace su ancho de banda y así se le da mayor estabilidad.
- AVerdadero
- BFalso
23En los reguladores a transistores, la unión base-emisor de un transistor se puede utilizar como un amplificador diferencial. Debe tenerse en cuenta que la tensiónbase-emisor se debe mantener constante en la medida diferencial.
- AVerdadero
- BFalso
24Los reguladores de tensión tienen un circuito realimentado negativamente que permite mantener constante la tensión de salida. Con el objeto de proteger a losreguladores frente a cortocircuitos o a altas corrientes por encima de la nominal, se suele incluir un segundo circuito realimentado negativamente que se encarga demodificar el primer mecanismo de regulación y bajar los niveles de corriente a niveles permitidos.
- AVerdadero
- BFalso
25Las referencias de tensión en los reguladores y basadas en diodos zener, son fijas según las especificaciones de fabricante y no pueden modificarse.
- AVerdadero
- BFalso
26Actualmente, los reguladores de Tensión se encuentran fabricados íntegramente en un circuito integrado que incluye todo el circuito regulador: Referencia deTensión, Comparador Diferencial y Transistor de Salida.
- AVerdadero
- BFalso
27Los reguladores de tensión pueden diseñarse para proporcionar tensiones variables reguladas. Para ello hay que incluir un circuito divisor de tensión variable que modifique la proporción de la tensión de salida con la referencia de tensión interna.
- AVerdadero
- BFalso
28En la formulación de la realimentación negativa en un circuito dado, el módulo del producto de la ganancia de lazo debe ser menor que uno: |A(ω) ⋅ β(ω)| < 1.
O lo que es lo mismo, los polos de la función de transferencia deben estar a la izquierda del plano complejo con su parte real negativa.- AVerdadero
- BFalso
29El efecto Zener forma parte de los mecanismos de ruptura de una unión semiconductora
polarizada en sentido inverso. Este fenómeno suele ocurrir cuando las dos uniones
semiconductoras están fuertemente dopadas, la zona de transición es muy estrecha y la
tensión inversa alta. También se denomina efecto túnel por la capacidad que adquiere el
electrón para atravesar una barrera energética más alta que la suya (fenómeno cuántico).- AVerdadero
- BFalso
30El efecto transistor es un fenómeno de distancia relacionado con la vida media de los
portadores al atravesar la base del transistor. Para que ocurra el efecto transistor es necesario
que la base sea suficientemente ancha frente a la longitud de difusión de los portadores
minoritarios que la atraviesan- AVerdadero
- BFalso
31La base debe ser lo suficientemente estrecha frente a la longitud de difusión de los portadores
minoritarios en la base para que éstos puedan pasar sin recombinarse apreciablemente.- AVerdadero
- BFalso
32Los coeficientes de movilidad y difusión están relacionados de forma directa. Cuando aumenta
o disminuye uno, también aumenta o disminuye el otro- AVerdadero
- BFalso
33Los coeficientes de movilidad y difusión de un material semiconductor están relacionados de
forma inversa por las denominadas relaciones de Einstein: Cuando aumenta la movilidad,
disminuye la difusión y viceversa.- AVerdadero
- BFalso
34La Ley de Acción de Masas dice que el producto de las concentraciones de electrones y huecos
en un Semiconductor a una temperatura dada es una constante que coincide con el cuadrado
de la concentración intrínseca a esa misma temperatura- AVerdadero
- BFalso
35La capacidad de almacenamiento de una estructura MIS o puerta de un transistor MOS,
depende en gran medida de la capacidad del oxido que es una función directa de su espesor.
Aunque la capacidad asociada a la superficie del semiconductor en las zonas de inversión y
vaciamiento sea mayor, la capacidad total observada siempre viene dominada por la capacidad
del oxido.- AVerdadero
- BFalso
36La ganancia de lazo es el producto de la función de transferencia del amplificador A(jw) por la
función de transferencia de la red pasiva B(jw). Cuando la realimentación es positiva, el
denominador de la función de transferencia del sistema realimentado es 1-A(jw)*B(jw). Si el módulo de la ganancia de lazo |A(jw)*B(jw)| es menor que la unidad, el sistema realimentado
es estable con independencia del valor de fase de dicho producto, si el módulo de
|A(jw)*B(jw)|=1 y la fase arg(A(jw)*B(jw))=0 existirá oscilación y se mantendrá
indefinidamente. Sin embargo, el sistema puede no arrancar a oscilar a no ser que
|A(jw)*B(jw)|>1.- AVerdadero
- BFalso
37Las Regiones de Inversión y de vaciamiento en una estructura MIS no dependen del nivel de
dopado del semiconductor ya que se trata de un fenómeno superficial dependiente
exclusivamente del potencial externo aplicado- AVerdadero
- BFalso
38La curvatura de las bandas en la superficie de un semiconductor depende del nivel de dopado
que determina el nivel de energía de Fermi o la tensión de Fermi Vb. La región de vaciamineto
se extiende desde el punto de inflexión de las bandas hasta el cruce de la energía del nivel
intrínseco (mitad del GAP), con la Energía del nivel de Fermi. Desde la superficie hasta este
punto estaríamos en la región de inversión.- AVerdadero
- BFalso
39El criterio de Barkhausen puede enunciarse también diciendo que las condiciones para que una
oscilación de forma mantenida es que la parte real de la ganancia de lazo sea uno y que la
parte imaginaria de la ganancia de lazo sea cero.- AVerdadero
- BFalso
40Si una unión PN se polariza en directa, el campo eléctrico externo se suma al campo eléctrico
interno de la zona de transición teniendo lugar la conducción- AVerdadero
- BFalso
41Cuando una unión PN se polariza en directa (Vb >0), disminuimos la presencia del campo
eléctrico interno creado en la capa vacía y aumentamos la posibilidad de difusión de
portadores. La curvatura de las bandas se hace menor generándose un flujo de portadores que
se desplazan por difusión.- AVerdadero
- BFalso
42En toda unión semiconductora aparece una carga iónica almacenada debida a los elementos
dopantes ionizados en la zona de transición o capa vacía. Esta carga almacenada se comporta
como un condensador. En Ausencia de potencial externo, la carga almacenada es debida al
potencial interno Vbi de la capa vacía- AVerdadero
- BFalso
43La capacidad de la unión semiconductora se mide por unidad de área derivando la carga entre
el potencial a la que está sometida. En semiconductores, la capacidad depende de la constante
dieléctrica del material y de los niveles de dopado de aceptores y dadores.- AVerdadero
- BFalso
44Los semiconductores extrínsecos se encuentran dopados con materiales del grupo III
(impurezas aceptoras), o materiales del grupo V (impurezas donadoras). Estas impurezas tienen bandas de energía que se encuentran dentro de la banda prohibida y pueden captar electrones
de la banda de valencia (impurezas aceptoras) o ceder electrones a la banda de conducción
(impurezas donadoras).- AVerdadero
- BFalso
45Las bandas de energía de las impurezas en un semiconductor se encuentran dentro de la banda
prohibida. Las impurezas donadoras tienen su banda de energía próxima a la banda de
conducción, mientras que las aceptoras la tienen cerca de la banda de valencia.- AVerdadero
- BFalso
46La ley de acción de masas se cumple en cualquier semiconductor, esté dopado o no.
- AVerdadero
- BFalso
47La ley de acción de masas dice que si en un semiconductor aumentamos el número de
electrones, forzosamente tiene que disminuir el número de huecos y viceversa y que su
producto debe ser una constante para una temperatura dada. Ahora bien, esta ley solo se
cumple en semiconductores intrínsecos.- AVerdadero
- BFalso
48La difusión es un mecanismo de movimiento de partículas que ocurre solo cuando se unen dos
materiales semiconductores de tipo P y tipo N.- AVerdadero
- BFalso
49Puede haber movimientos debidos a difusión en un cristal solo de tipo N o de tipo P si en este
hay diferencias de concentración espacial ó es no homogéneo- AVerdadero
- BFalso
50Un regulador de tensión lineal se caracteriza por tres parámetros básicos: El coeficiente de
regulación impide que mide los cambios en la tensión de salida frente a los cambios en la
tensión de entrada. La impedancia de salida o medida de los cambios de la tensión de salida
frente a los cambios en la corriente en la carga y, finalmente, el coeficiente de temperatura que
mide los cambios de la tensión de salida frente a los cambios de temperatura. Estos
coeficientes son constantes para un regulador dado.- AVerdadero
- BFalso
51Los parámetros que caracterizan a un regulador se dan en un margen de tensiones de entrada,
margen de corrientes de salida y margen de temperatura. Por tanto, estos parámetros no son
constantes sino que también se mueven en un determinado rango- AVerdadero
- BFalso
52En una unión abrupta PN en equilibrio térmico sin ningún potencial aplicado, aparece una zona
de transición en la que no existen ni huecos ni electrones porque hay un campo eléctrico que
impide su movilidad- AVerdadero
- BFalso
53En una unión semiconductora PN se conjugan dos fenómenos: Una difusión de portadores por
exceso de concentración que hace que los elementos dopantes pierdan electrones (en la parte
N) y ganen electrones (en la parte P), quedando dos zonas ionizadas (Positiva en la parte N y
Negativa en la parte P) que generan un campo eléctrico que se opone a la Difusión y que
genera una deriva de portadores en sentido contrario. En equilibrio térmico, se contrarrestan
los fenómenos de Difusión y Deriva manteniéndose una zona ionizada vacía de portadores
(capa vacía).- AVerdadero
- BFalso
54Las referencias de tensión Band-Gap hacen uso de los coeficientes térmicos de la Tensión
térmica Vt y de diferencias de Tensión Base-Emisor Vbe de dos o más transistores bipolares
polarizados en zona activa (ambos coeficientes de signo contrario), para desarrollar
determinadas topologías que permiten cancelar los efectos térmicos en un nodo concreto que
suele presentar una tensión del mismo orden que la tensión Band-Gap del material.- AVerdadero
- BFalso
55Los transistores que proporcionan la AVbe suelen construirse con características idénticas bajo
un mismo sustrato con el fin de cancelar sus componentes de corrientes de saturación.- AVerdadero
- BFalso
56El efecto Early es un fenómeno de segundo orden en transistores bipolares debido a que el
ancho efectivo de la base cambia con los anchos de las zonas neutras de la unión de
Base-Emisor y de Base-Emisor cuando sus polarizaciones se ven sometidas a cambios. Este
fenómeno hace que la corriente de saturación de un transistor cambie cuando cambia su
tensión Colector-Emisor- AVerdadero
- BFalso
57Las Regiones de Inversión y de Vaciamiento en una estructura MIS no dependen del nivel de
dopado de semiconductor ya que se trata de un fenómeno superficial dependiente
exclusivamente del potencial externo aplicado.- AVerdadero
- BFalso
58La curvatura de las bandas en la superficie de un semiconductor depende del nivel de dopado
que determina el nivel de energía de Fermi o la Tensión de Fermi Vb. La región de vaciamiento
se extiende desde el punto de inflexión de las bandas hasta que el cruce de la energía del nivel
intrínseco (mitad del GAP), con la Energía del nivel de Fermi. Desde la superficie hasta este
punto estaríamos en la región de inversión.- AVerdadero
- BFalso
59Los semiconductores homogéneos intrínsecos o extrínsecos los portadores se pueden mover
de dos formas distintas: Por Deriva o por Difusión.- AVerdadero
- BFalso
60Cuando un transistor bipolar se polariza en activa (unión base-emisor en directa y unión
base-colector en inversa), se produce un fenómeno denominado ‘efecto transistor’ cuando la anchura efectiva de la Base aumenta. El transistor se hace más conductivo (Corriente
Emisor-Colector) cuanto mayor es dicha anchura efectiva.- AVerdadero
- BFalso
61El fenómeno transistor es un fenómeno de corta distancia. Los portadores inyectados desde el
emisor atraviesan la zona de base en mayor medida cuanto más estrecha sea. El camino de los
portadores en la base se ve sometido a un proceso de Recombinación que depende de la
distancia y de la vida media de los portadores. Cuanto más corta sea la distancia a recorrer en
la base, más posibilidad tiene el portador de alcanzar el colector- AVerdadero
- BFalso
62El nivel de Fermi se encuentra en la mitad del GAP en semiconductores intrínsecos, baja hacia
el nivel de la banda de valencia en semiconductores tipo p y sube hacia el nivel de la banda de
conducción en semiconductores de tipo n. Esto ocurre a temperatura ambiente, pero si el
semiconductor de tipo p o tipo n se calientan a gran temperatura, el nivel de Fermi en ellos
vuelve de nuevo a la mitad del GAP- AVerdadero
- BFalso
63El nivel de Fermi mide la partición de portadores en las bandas de conducción y valencia. En
Semiconductores extrínsecos a baja temperatura dominan los portadores implantados. Sin
embargo, cuando el semiconductor se calienta, la contribución de los portadores de la red
(intrínsecos), se hace comparable o mayor que los intrínsecos, resultando como consecuencia
un nivel de Fermi situado en la mitad de GAP.- AVerdadero
- BFalso
64La capacidad de almacenamiento de una estructura MIS o puerta de un transistor MOS,
depende en gran medida de la capacidad del óxido que es una función directa de su espesor.
Aunque la capacidad asociada a la superficie del semiconductor en las zonas de inversión y
vaciamiento sea mayor, la capacidad total observada siempre viene dominada por la capacidad
del óxido.- AVerdadero
- BFalso
65Las hipótesis para estudiar el comportamiento del diodo en directa y en inversa se basan en el
concepto de bajo nivel de inyección mediante el cual la variación relativa de mayoritarios es
despreciable frente a la de minoritarios, considerando entonces su concentración igual a la del
equilibrio- AVerdadero
- BFalso
66La Ecuación de Continuidad es la Ecuación Fundamental que rige la dinámica de portadores en
un semiconductor. Es una consecuencia del principio de conservación y relaciona la variación
espacial de la densidad de corriente (provocada por fenómenos de Deriva y Difusión) con la
variación temporal de la densidad de carga incluyendo los efectos de Generación y
Recombinación de portadores- AVerdadero
- BFalso
67La ecuación de continuidad es la ecuación diferencial que debe resolverse para estudiar la
dinámica de portadores en cualquier semiconductor o uniones semiconductoras.- AVerdadero
- BFalso
68El efecto Zener forma parte de los mecanismos de ruptura de una unión semiconductora
polarizada en sentido inverso. Este fenómeno suele ocurrir cuando las uniones
semiconductoras están fuertemente dopadas, la zona de transición es muy estrecha y la
tensión inversa alta. También se denomina efecto Túnel por la capacidad que adquiere el
electrón para atravesar una barrera energética más alta que la suya (fenómeno cuántico).- AVerdadero
- BFalso
69La tensión umbral de un diodo MIS o una puerta MOS se define como la tensión aplicada que
hace que la superficie entre en inversión. Esta tensión es el doble de la tensión de Fermi Vb.- AVerdadero
- BFalso
70A la tensión umbral hay que añadirle un término dependiente de la carga supercicial
almacenada.- AVerdadero
- BFalso
71El coeficiente de movilidad y el coeficiente de difusión están relacionados con la tensión
térmica.- AVerdadero
- BFalso
72El coeficiente de difusión es igual al coeficiente de movilidad por la tensión térmica (Relación
de Einstein).- AVerdadero
- BFalso
73La realimentación en circuitos electrónicos es una técnica que permite modelar el grado de
estabilidad del circuito. Los circuitos realimentados positivamente se hacen estables, siendo
éste el principio básico de la oscilación. Por el contrario, la realimentación negativa hace a los
circuitos más inestables, siendo este el principio de la regulación de tensión y/o corriente.- AVerdadero
- BFalso
74La realimentación negativa ofrece estabilidad y la positiva inestabilidad.
- AVerdadero
- BFalso
75El transistor bipolar podría ser un dispositivo simétrico pero se comprobó que el efecto
transistor era mayor cuando se construía de forma asimétrica haciendo que las
concentraciones en la unión base-emisor fueran mayores que las de la unión base-colector y
además la concentración de portadores en la base fuese de tipo gradual de mayor a menor
desde el lado de emisor al lado de colector- AVerdadero
- BFalso
76A temperatura ambiente. Predomina el efecto conductivo de los portadores dopantes frente a
los portadores intrínsecos. Por eso, se suele simplificar diciendo que a temperatura ordinaria
Na=p en semiconductores de tipo P y Nd=n en semiconductores de tipo N.- AVerdadero
- BFalso
77A temperatura ambiente todos los elementos dopantes se encuentran ionizados.
- AVerdadero
- BFalso
78Si una unión PN se polariza en directa, el campo eléctrico externo se suma al campo eléctrico
interno de la zona de transición teniendo lugar la conducción- AVerdadero
- BFalso
79La tensión umbral de un diodo MIS o una puerta MOS se define como la tensión aplicada que
hace que la superficie entre en inversión. Esta tensión es el doble de la tensión de Fermi Vb.- AVerdadero
- BFalso
80En semiconductores homogéneos intrínsecos o extrínsecos los portadores se pueden mover de
dos formas diferentes: Por deriva o por difusión.- AVerdadero
- BFalso
81Los fenómenos de generación y recombinación de portadores podemos considerarlos como
colisiones debidas a la agitación térmica de la red cristalina. En ellos aparecen fenómenos de
aniquilación de pares electrón-hueco (Recombinación). En equilibrio térmico, los procesos de
generación son iguales a los procesos de recombinación.- AVerdadero
- BFalso
Información
- Descripción
- Test sobre PARCIAL 1, creado por Robert B el 31/08/2022.
- Autor
- Robert B
- Idioma
- Español
- Visitas
- 9
- Valoración
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