Ensayos acelerados utilizando los métodos no paramétricos

Nano condensadores de cerámica
1. Metodología
  1. 1. Diseñar los ensayos acelerados
    1. Se determina los tipos y niveles de estres
      1. 150°C
      2. 100V
    2. Se define el modo de falla
    3. Se define las características a medir
  2. 2.Realizar las pruebas de ensayos
    1. Recolectar los datos
      1. Tiempo hasta la falla
  3. 3. Evaluar la confiabilidad usando métodos no paramétricos
    1. Kaplan–Meier
      1. Estima la probabilidad de supervivencia para una población N
    2. Simple actuarial
      1. Calcula el número de fallas en un intervalo de tiempo
    3. MTTF=1275 h
    4. Los valores estimados de confiabilidad de ambos métodos son similares
  4. 5.Comparar los métodos no paramétricos con
    1. la norma MIL-HDBK-217
      1. Estimador de tasa de fallas de componentes eléctricos
      2. Utilizada en diseños iniciales de circuitos
        Cuando la información disponible es escasa
      3. Tasa de falla del equipo=0:000213 Fallas=h
    2. Ecuación empírica Prokopowicz y Vaskas (P-V)
      1. Se emplea en experimentos que estudian la confiabilidad
        Nano condensadores de cerámica
      2. Tiempo hasta la falla actual= 97116.12 h=11.08 años
  5. 4. Comparar los 2 métodos
Condensador de placas
1. Metodología
  1. 1.Diseñar y desarrollar las pruebas de ensayos
    1. determinar el nivel de estres
      1. 20V
  2. 2. Calcular los tiempos hasta la falla
    1. La resistencia de aislamiento cae dramaticamente
  3. 3.Evaluar la confiabilidad usando métodos no paramétricos
    1. Ensayo de datos no agrupados
      1. 10 ensayos
      2. MTTF= 7.86 h
  4. 4. Comparar los métodos no paramétricos con
    1. La ley de potencia inversa
      1. Tiene relación con la ecuación P-V
      2. Hallar el MTTF bajo condiciones actuales
        Tiempo hasta la falla=68934.22 h=7.86 years

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